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    簡化口腔衛(wèi)生指數(shù)記分標準

      簡化口腔衛(wèi)生指數(shù)(OHI-S)是Greene和Vermillion對他們在1960年提出的口腔衛(wèi)生指數(shù)(OHI)加以簡化,使之更易操作的基礎(chǔ)上于1964年提出的。兩者的區(qū)別在于0HI需檢查全口28顆牙,評價12個牙面(每個區(qū)段選擇覆蓋軟垢、菌斑與牙石最多的1個唇面,1個舌(腭)面),而OHI-S只檢查6個牙面[16、11、26、31的唇(頰)面,36、46的舌面].簡化口腔衛(wèi)生指數(shù)包括簡化軟垢指數(shù)(DI-S)和簡化牙石指數(shù)(CI-S)。簡化口腔衛(wèi)生指數(shù)可以用于個人,但主要朋于人群口腔衛(wèi)生狀況評價。

      記分標準:

      DI-S:

      0=牙面上無軟垢。

      1=軟垢覆蓋面積占牙面1/3以下

      2=軟垢覆蓋面積占牙面1/3與2/3之間

      3=軟垢覆蓋面積占牙面2/3以上

      CI-S:

      0=齦上、齦下無牙石

      1=齦上牙石覆蓋面積占牙面1/3以下

      2=齦上牙石覆蓋面積在牙面1/3與2/3之間,或牙頸部有散在齦下牙石

      3=齦上牙石覆蓋面積占牙面2/3以上,或牙頸部有連續(xù)而厚的齦下牙石

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