x-S的質(zhì)控圖是檢驗(yàn)主管技師考試要求掌握的內(nèi)容，醫(yī)學(xué)教育網(wǎng)搜集整理相關(guān)內(nèi)容供大家參考。

　　后來(lái)Henry和Segalove對(duì)X-R質(zhì)控圖進(jìn)行了修改，他們以20次質(zhì)控物的單次測(cè)定結(jié)果，計(jì)算其x及標(biāo)準(zhǔn)差（s），以x±2S為警告限，以x±3S為失控限，這也就是現(xiàn)在廣為應(yīng)用的Levey—Jennings質(zhì)控圖，從質(zhì)控圖的體系來(lái)說(shuō)，它屬于單值質(zhì)控圖中的x-S質(zhì)控圖。這個(gè)質(zhì)控圖適用于質(zhì)控?cái)?shù)據(jù)取得需要較長(zhǎng)周期或費(fèi)用昂貴時(shí)，其方法比較簡(jiǎn)單，易于推廣。實(shí)際上這兩種質(zhì)控圖的檢定力是不同的，原Levey—Jennings質(zhì)控圖優(yōu)于用單次測(cè)定結(jié)果繪制的質(zhì)控圖，且提供了更多的質(zhì)量信息。這個(gè)質(zhì)控圖不僅存在著檢出失控能力（檢定力）較差的缺點(diǎn)，同時(shí)如果測(cè)定數(shù)據(jù)不呈正態(tài)分布，產(chǎn)生假失控的概率就會(huì)增大，造成誤判失控的可能性增加。