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    [衛(wèi)生法規(guī)]眶耳平面的解剖標志是

    原題:
    [衛(wèi)生法規(guī)]眶耳平面的解剖標志是
    對構成比的正確描述是
    A.其合計可以大于100%,也可以小于100%
    B.其合計大于100%
    C.其合計小于100%
    D.其合計等于100%
    E.其動態(tài)變化可以反映某現(xiàn)象發(fā)生強度的改變
    答案:
    D
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