新生兒缺氧缺血性腦病是圍生期需要重點關注的疾病，會伴有中樞神經(jīng)系統(tǒng)的受損，主要原因是圍生期窒息、缺氧，考試中也是?？贾R點，本期帶大家一起回顧相關內(nèi)容。

問題索引：

1.新生兒缺氧缺血性腦病的原因？

2.新生兒缺氧缺血性腦病的輔助檢查？

3.新生兒缺血缺氧性腦病的發(fā)病機制？

具體解答：

1.新生兒缺氧缺血性腦病的原因？

新生兒缺氧缺血性腦病最常見的原因是

A.產(chǎn)傷

B.腦血管栓塞

C.貧血

D.發(fā)紺型先天性心臟病

E.圍生期窒息

【答案】E

【解析】新生兒缺氧缺血性腦病是由圍生期缺氧所致的腦損傷，進而使中樞神經(jīng)系統(tǒng)受損，臨床上有腦病的表現(xiàn)：驚厥或[醫(yī)學教育網(wǎng)原創(chuàng)]腦干受損表現(xiàn)，意識狀態(tài)、肌肉張力及原始反射異常。（1）圍生期：窒息各種原因所致宮內(nèi)窘迫，分娩過程中或出生時的窒息是主要的病因。腦部病變依窒息時間和缺氧缺血程度而定。（2）新生兒疾?。喝鐕乐氐暮粑鼤和！⒎瓮该髂げ?、胎糞吸入綜合征、嚴重肺炎、心搏驟停、心力衰竭、休克等所致的缺氧缺血。

2.新生兒缺氧缺血性腦病的輔助檢查？

以下哪項檢查對診斷新生兒缺氧缺血性腦病意義重大

A.頭顱B超

B.MRI

C.腦脊液檢查

D.血氣分析

E.頭顱CT

【答案】B

【解析】MRI對HIE的診斷有重要意義。常規(guī)MRI可于生后2～8天完成檢查，可以明確神經(jīng)病理類型：①白質(zhì)損傷為主，T1WI為高信號，T2WI為低信號；②內(nèi)囊后支，基底核及丘[醫(yī)學教育網(wǎng)原創(chuàng)]腦腹外側(cè)核受累為主，常見于重度HIE預后不良；③皮層或皮層下白質(zhì)受累常為缺血性病變，或出血性改變；④白質(zhì)和皮層，或同時有深部核團受累。

3.新生兒缺血缺氧性腦病的發(fā)病機制？

新生兒缺血缺氧性腦病的發(fā)病機制不正確的是

A.興奮性氨基酸

B.高血糖

C.代謝性酸中毒

D.鈣超載

E.氧自由基

【答案】B

【解析】缺氧時無氧酵解使糖耗量增加，乳酸堆積，導致低血糖和代謝性酸中毒；ATP產(chǎn)生減少，細胞膜鈉泵，鈣泵功能不足，使鈉、鈣離子進入細胞內(nèi)鈉離子造成細胞源性腦水腫，鈣離子導致細胞不可逆的損害就能激活相關酶原，引起胞漿膜磷脂成分分解，破壞腦細胞膜的完整性和通透性；缺氧時，ATP降解，腺苷轉(zhuǎn)為次黃嘌呤，當缺血再灌注時，氧和次黃嘌呤在黃嘌呤氧化酶作用下產(chǎn)生氧自由基；缺氧時，興奮性氨基酸異常[醫(yī)學教育網(wǎng)原創(chuàng)]釋放，可造成鈉、鈣離子內(nèi)流，阻斷線粒體的磷酸化氧化作用，引起細胞自我破壞，神經(jīng)元上興奮性氨基酸受體密集者易受缺氧缺血損傷。

醫(yī)學教育網(wǎng)兒科主治醫(yī)師：《答疑周刊》2023年第18期

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